PRODUCTS CENTER
产品动态
AQ6150B Yokogawa
光波长计
• 光放大测量系统的DFB激光器校准
• 无源器件测量系统的可调激光器校准
• 高精度调整和检测可调激光器
• 测量光收发器和转发器调制信号
• 通过WDM技术测量40G和100G光收发器的所有通道
• 无源器件测量系统的可调激光器校准
• 高精度调整和检测可调激光器
• 测量光收发器和转发器调制信号
• 通过WDM技术测量40G和100G光收发器的所有通道
428B/438 Bristol
光波长计
• 波长测量精度可达±0.3 pm
• 内置标准稳频HeNe激光器实现连续校准
• 测量置信水平≥ 99.7 %，NIST可追溯
• 内置标准稳频HeNe激光器实现连续校准
• 测量置信水平≥ 99.7 %，NIST可追溯
AQ6151B Yokogawa
光波长计
• 波长精度：±0.2ppm
• 测量、分析并将结果传至PC均仅需0.2秒
• 最大波长数：1024(多波长)， 1(单波长)
• 支持CW、调制收发器和光滤波器测量
• 测量、分析并将结果传至PC均仅需0.2秒
• 最大波长数：1024(多波长)， 1(单波长)
• 支持CW、调制收发器和光滤波器测量
WA1150 Exfo
光波长计
• 扫描迈克尔逊干涉仪
• 波长精度 ± 1.5 pm
• 使用内置波长参考进行连续校准
• RS-232 和 GPIB 远程接口
• 高精度光谱分析
• 波长精度 ± 1.5 pm
• 使用内置波长参考进行连续校准
• RS-232 和 GPIB 远程接口
• 高精度光谱分析
WA-1650 Exfo
光波长计
• 精确表征有源和无源 DWDM 组件
• 最高保证绝对波长精度
• 使用内置 HeNe 激光波长标准进行连续校准
• 10Hz的最高测量更新率
• 最高保证绝对波长精度
• 使用内置 HeNe 激光波长标准进行连续校准
• 10Hz的最高测量更新率
86122C Keysight
光波长计
• 绝对波长精度：±0.2 ppm
• 差分波长精度：± 0.15 ppm
• 小于 0.5 秒的波长扫描
• 差分波长精度：± 0.15 ppm
• 小于 0.5 秒的波长扫描
86122B Keysight
光波长计
• 最大激光线数输入：1000
• 波长范围：1270 – 1650 nm（182 至 236 THz）
• 波长绝对精度：±0.2 ppm
• 波长范围：1270 – 1650 nm（182 至 236 THz）
• 波长绝对精度：±0.2 ppm
86122A Keysight
光波长计
• 最大激光线数输入：1000
• 波长范围：1270 – 1650 nm（182 至 236 THz）
• 波长绝对精度：±0.2 ppm
• 波长范围：1270 – 1650 nm（182 至 236 THz）
• 波长绝对精度：±0.2 ppm
86120D Keysight
光波长计
• 额定波长范围：700 – 1650 nm
• 工作波长范围：700 – 1700 nm
• 扫描重复时间小于 0.6 秒
• 工作温度范围：0 °C 至 +55 °C
• 工作波长范围：700 – 1700 nm
• 扫描重复时间小于 0.6 秒
• 工作温度范围：0 °C 至 +55 °C
